颗粒图像仪的细节观测更加清晰，并且使用USB2.0/1394传输方式还可以很方便的在便携式电脑上使用，进一步提高了产品的整体性能，与传统显微镜相比优势更加明显。根据多年来用户的使用意见进行了更加人性化的升级和改进，由计算机自主分析出样品各种等效粒径、X、Y切线等“单体属性”、以及包括长径比、球型度在内的“形态参数”。再通过进一步计算得出此样品的整体分布情况（包含整体分布曲线等丰富数据），软件中还增加了多幅图像拼接计算的模式，成倍增加了参与分析的颗粒数量，从而有效的保证了数据的代表性。
激光粒度仪和颗粒图像仪有什么区别？
粒度仪可分为纳米粒度仪，激光粒度仪，单颗粒光阻法粒度仪和图像粒度仪等。
粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。
粒度仪分类介绍：
激光粒度仪
采用MIE散射原理的激光粒度仪，假设被测颗粒为标准球形，无法测量颗粒形貌，多为离线粒度仪。
采用MIE散射原理的激光粒度仪由自主研发的会聚光傅立叶变换光路和无约束自由拟合是数据处理软件组成，可检测颗粒大小及分布，覆盖了毫米、微米、亚微米及纳米多个波段。
其测试颗粒大小及分布时采用的分散系统根据不同的测试要求分为湿法分散系统、干法分散系统和干湿一体分散系统。
当光线照射到颗粒上时会发生散射、衍射，其衍射、散射光强度均与粒子的大小有关。观测其光强度，可应用Fraunhofer衍射理论和Mie散射理论求得粒子径分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理论进行计算。光入射到球形粒子时可产生三类光：一类，在粒子表面、通过粒子内部、经粒子内表面的反射光；第二类，通过粒子内部而折射出的光；第三类，在表面的衍射光。这些现象与粒子的大小无关，全都可以作为光散射处理。
一般地，光散射现象可以用经Maxwell电磁方程式严密解出的Mie散射理论说明。但是，实际使用起来过于复杂，为了求得实际的光强度，可根据入射波长λ和粒子半径r的关系，即：rλ时，Fraunhofer衍射理论。在使用上述理论时，应考虑到光的波长和粒径的关系，在不同的领域使用不同的理论。
粒径大于波长的时候，由Fraunhofer衍射理论求得的衍射光强度和Mie散射理论求得的散射光强度大体是一致的。因此，可以把Fraunhofer衍射理论作为Mie散射理论的近似处理。这时，光散射(衍射)的方向几乎都集中在前方，其强度与粒子径的大小有关，有很大的变化。即表示粒子径固有的光强度谱，解出粒子的光强度分布(散射谱)就可以定出粒子径。当波长和粒子径很接近的时候，不能用Fraunhofer的近似式来表示散射强度。这时有必要根据Mie散射理论作进一步讨论。在Mie散射中的散射光强度由入射光波长、粒子径、粒子和介质的相对折射率来确定。
颗粒图像仪
对颗粒拍照后将图片分析处理，可以测量颗粒形貌，通过此方法可实现原位实时在线测量。
颗粒图像仪拥有静态、动态两种测试方法。
静态方式使用改装的显微镜系统，配合高清晰摄像机，将颗粒样品的图像直观的反映到电脑屏幕上，配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状、整体分布等属性的计算，并可以将测试结果输出为报告。
动态方式具有形貌和粒径分布双重分析能力。重建了全新循环分散系统和软件数据处理模块，解决了静态颗粒图像仪的制样繁琐、采样代表性差、颗粒粘连等缺陷。
