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粒度分析仪您“注意”了吗

更新时间:2013-08-19 点击次数:2636
    粒度分析仪是根据光的散射原理测量粉颗粒大小的一种比较通用的粒度仪。测量动态范围宽、测量速度快、操作方便,非常适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。很多粒度分析仪集成了激光技术、现代光电技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有多种优点,现已成为*zui流行的粒度分析仪。作为一种新型的粒度测试仪器,粒度分析仪已经在其它粉体加工与应用领域得到广泛的应用。它的应用对提高产品质量、降低能源消耗有着重要的意义。  
 
    粒度分析仪是当前应用很广泛的一类仪器之一,因此在使用过程中应该注意一些事项:*,测量单元预热;在*次开机,或关机超过半小时再重复开机时需要预热。第二,系统对中;系统对中就是把激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。第三,系统参数设置;在主菜单下,用鼠标左键单击“文件”,屏幕上弹出“文件”子菜单。再用鼠标左键单击“重新开始”,屏幕继续弹出“系统参数设置”栏。在该栏上输入:超声时间、测试人等项内容。第四,样品准备;样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。
 
粒度分析仪在测量中应该注意哪些呢:
 
不同粒度分析仪技术的局限性:不同粒度分析技术都受其测量原理限制.如光衍射法不能测量小于光源自然线宽的颗粒;沉降法则既受制于大尺寸端乱流的影响,又受小尺寸端扩散(布朗运动)的限制。一些测量仪器也会因制作和操作规程带来一定限制。有时测量技术还对测量样品的准备提出限制,PCS测量必须使颗粒悬浮,电镜制样要求优良分散。因此,了解测量技术的局限性和严格满足其限制要求.对获取正确测量结果非常必要。
 
    测量基准:不同粒度分析仪技术的原理不同,原信息源和计量目标不同。例如光衍射法的原信息源是散射光强度,要求防止细颗粒中少数大颗粒对信息源的支配.电敏技术则按颗体积计数,因此各方法的基准不同,彼此不能简单归一同比。所以必须强调数据转化因基准不同会带来明显的误差。
 
    分离颗粒的能力与粒度测试技术选择:依据对颗粒的分离能力.可将测量颗粒的技术分为单颗粒计数、颗粒分级和整体平均结果三类。图像分析、显微镜是典型的单颗粒技术方法;分级方法包括筛分、沉降、离心和颗粒色谱等;整体平均的粒度分析方法,从收集到的所有测量颗粒产生信号的总和计算粒度分析,即测量结果由解析得到,是被测颗粒整体的平均,因此易于实现自动化和在线分析,但分辨率较低。用于催化剂工业生产的颗粒分析仪选择整体平均的方法,实验室研究多数情况希望获得单颗粒技术与外貌信息,分级方法的选择,应当结合测量颗粒性质与测量方式考虑。
 
    粒度分析仪的信息与技术指标要求:粒度分析仪的信息要求.是指给出结果的表达方式.可以是平均粒径、累加频率值、正态分布、分布宽度.也可用对数正态分布、非对称分布宽度、多峰分布的各峰相对量,以及累加频率的不同名义(如颗粒数、体积、面积等)表达。催化剂粒度分析zui有用的信息是平均粒径和粒径的颗粒数分布。
 

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